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　　測(cè)厚儀指的是用來測(cè)量材料及物體厚度的一種常見儀器，通常根據(jù)裁量對(duì)象的不同，也采用相應(yīng)的測(cè)厚儀，例如超聲波測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、激光測(cè)厚儀等，雖然他們的種類比較繁多，但是其使用方法大致是一樣。
　　1、測(cè)厚儀在使用的過程中，應(yīng)當(dāng)注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
　　2、在測(cè)量的過程中，應(yīng)當(dāng)注意側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
　　3、在測(cè)量時(shí)，應(yīng)當(dāng)注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
　　4、在測(cè)量的過程中，應(yīng)當(dāng)注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。
　　5、在使用時(shí)，應(yīng)當(dāng)確保周圍的其他電器不回產(chǎn)生磁場(chǎng)，從而干擾了磁性測(cè)厚法。
　　6、測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
　　7、在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
　　8、在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。