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　　PCT老化箱（又名PCT高壓加速老化試驗機）主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
　　一、PCT老化試驗箱箱體結構特點：
　　1、圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業安全容器標準，可防止試驗中結露滴水設計。
　　2、圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
　　3、精密設計，氣密性良好,耗水量少，每次加水可連續200h。
　　4、自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，專利安全門把設計，箱內有大于常壓時測試們會被反壓保護。
　　5、在無試驗負荷，無層架情況下穩定30分鐘后測定的性能。
　　6、關于溫度上升及下降時間，是指風冷式在周圍環境溫度為26℃±5℃時所測量的性能。
　　7、溫濕度傳感器設置于空調箱出風口處。
　　8、溫濕度均勻度定義為：實驗室幾何中心點處，溫濕度時的所測之資料。
　　9、以上數據性能，測量，計算方法參照GB5170、2、GB5170、5的方法測定。
　　二、PCT老化試驗箱儀器特色：
　　1、選用的是式的的技能來操控，ASLI挑選的是進口微電腦來操控飽滿蒸氣溫度，微電腦主動演算操控飽滿蒸氣溫度。
　　2、實驗箱的壓表ASLI挑選有著主動水位操控器，而且會在水位缺乏時會有警示，在時刻操控器運用的是LED顯現器，式的指針顯現正負壓表。
　　3、在實驗箱中ASLI運用的契合工業安全規范的圓型內箱，選用了不銹鋼的原型運用內箱成果，這種規劃能夠在實驗中能夠防止結露滴水。