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原子力顯微鏡是用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。主要用于測量物質的表面形貌、表面電勢、摩擦力、粘彈力和I/V曲線等表面性質，是表征材料表面性質強有力的新型儀器。另外此儀器還具有納米操縱和電化學測量等功能。

原子力顯微鏡的原理：

原子力顯微鏡是利用原子間的相互作用力來觀察物體表面微觀形貌的。AFM的關鍵組成部分是一個頭上帶有探針的微懸臂。微懸臂大小在數十至數百mm，通常由硅或者氮化硅構成.探針針尖長度約幾mm,尖端的曲率半徑則在0.1nm量級。當探針接近樣品表面時，針尖和表面的作用力使微懸臂彎曲偏移。這種偏移由射在微懸臂上的激光束反射至光電探測器而測量到。

當承載樣品的壓電掃描器在針尖下方運動時，微懸臂將隨樣品表面的起伏而受到不同的作用力,繼而發生不同程度的彎曲.因此，反射到光電探測器中光敏二極管陣列的光束也將發生偏移.光電探測器通過檢測光斑位置的變化，就可以獲得微懸臂的偏轉狀態，反饋電路可把探測到的微懸臂偏移量信號轉換成圖像信號，通過計算機輸出到屏幕上,同時根據微懸臂的偏移量控制壓電掃描器的運動。